Corruption, insecurity and technical efficiency : evidence from the Kenyan manufacturing firms / Dianah Mukwate Ngui, Claudia Becker and Walter Thomi
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Corruption, insecurity and technical efficiency
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588417262
URN
urn:nbn:de:gbv:3:2-7977
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Publication history
Halle (Saale) : Univ., Wirtschaftswiss. Fakultät, 2008
Content
Online-Ressource (PDF-Datei: 20 S., 0,08 MB)
Edition
Language
eng
Comment
Parallel als Buch-Ausg. erschienen
Abstract
Series
Volkswirtschaftliche Diskussionsbeiträge ; 58 ppn:502636505