Corruption, insecurity and technical efficiency : evidence from the Kenyan manufacturing firms / Dianah Mukwate Ngui, Claudia Becker and Walter Thomi
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Discovery
588417262
URN
urn:nbn:de:gbv:3:2-7977
DOI
ISBN
ISSN
Autorin / Autor
Beiträger
Körperschaft
Erschienen
Halle (Saale) : Univ., Wirtschaftswiss. Fakultät, 2008
Umfang
Online-Ressource (PDF-Datei: 20 S., 0,08 MB)
Ausgabevermerk
Sprache
eng
Anmerkungen
Parallel als Buch-Ausg. erschienen
Inhaltliche Zusammenfassung
Schriftenreihe
Volkswirtschaftliche Diskussionsbeiträge ; 58 ppn:502636505