Zur optimalen Parametrisierung der Lagerkennlinie nach Nyhuis/Wiendahl / Karl Inderfurth; Tobias Schulz
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Discovery
795058144
URN
urn:nbn:de:gbv:3:2-30992
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ISSN
Autorin / Autor
Beiträger
Körperschaft
Erschienen
Magdeburg : Univ., FEMM, 2007
Umfang
Online-Ressource (PDF-Datei: 0,48 MB) : graph. Darst.
Ausgabevermerk
Sprache
ger
Anmerkungen
Inhaltliche Zusammenfassung
Schriftenreihe
Working paper series ; 2007,16 ppn:58927368X